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仪器名称 |
场发射透射电子显微镜 |
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仪器类别 |
显微成像分析平台 |
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生产厂家 |
Themo Fisher |
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规格型号 |
Talos F200X |
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启用日期 |
2020-10-26 |
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仪器说明 |
性能参数：点分辨率：≤0.25nm STEM分辨率：≤0.16nm SDD无窗能谱仪 高角环形暗场探头（HAADF） 配套附件及设备： 三维重构样品杆、原位加热样品杆、电子能量损失谱仪（EELS）、减震台（TKK, α4G-141M-910-FE2)、离子减薄仪（Gatan, 695.C） 主要附件：单倾杆、低背底双倾杆、常温三维重构样品杆、加热杆 样品要求： 粉末样品表面清洁无污染物、电子束辐照稳定不分解；块体样品需离子减薄制样处理。 |